供应日本Kett（株式会社ケツト科学研究所）LZ-370膜厚计

日本Kett（株式会社ケツト科学研究所）LZ-370膜厚计LZ-370用于磁性金属上的非磁性被膜及非磁性金属物上的绝缘被膜之测量，为双功能型膜厚计。*适合处理多种素材及多样被膜之工作现场使用。370系列皆可将资料打印或转送计算机储存；机体搭载有16项功能，并备有专用打印机、测量台、外部输出线及资料管理软件供选购利用。【Kett代理商：上海益朗仪器有限公司负责中国地区Kett的产品销售和维修】中文界面具备中文、日文、英文、韩文四种操作语言显示，操作简单明了。 100组检量曲线记忆容量使用者可将所有工件分类，将检量曲线各别建立，开机即可上使用，不需再校正。 测量值具查阅功能工作现场的量测值*多可记忆3,000笔，使用者可在「删除数据」功能下，一一查阅每一笔测量值。 具统计平均功能统计计算范围可由使用者自行设定，统计计算*大值、*小值、平均值及标准差值。 具连续扫瞄测量功能370系列膜厚计搭载「单点测量」及「连续测量」功能，广用于各种表面状况及排除测量争议。 具资料传输功能测量数值可外接专用打印机VZ-330(选购)或外接计算机。测量时实时传输或测量后一并传输皆可。 日本Kett（株式会社ケツト科学研究所）LZ-370膜厚计测量方式 电磁诱导式 测量对象 磁性金属上非磁性被膜 及非磁性金属上的绝缘被膜 测量范围 0～2,500μm或0～99.0mils或0～1,200μm或0～47.0mils 测头型式 单点接触定压式（LEP-J & LHP-J） *小测量面积 5x5mm 测量精度 50μm以下：±1μm50μm～1,000μm：±2%1,000μm以上:±3% 分辨率 100μm以下：0.1μm100μm以上：1.0μm 检量曲线 电磁式50组、涡电流式50，共100组检量曲线记忆 资料记忆数 约3,000笔，资料具查阅功能 测量功能 具单点测试、连续扫瞄测试，可测试膜厚分布变化 显示方式 背光式LCD(180x64dots)数位显示*小解析0.1μm 外部输出 可将资料输出至个人计算机或专用打印机（RS-232C) 电源 单3碱性电池x4颗 电力消耗 80mW(当背光关闭时) 电池寿命 约100小时(连续使用，背光关闭时) 操作环境 0～40℃ 应用功能 检量线选择、素材补正、资料删除、资料记忆、上下限设定、统计计算(测量次数、平均值、标准偏差、*大值、*小值)、显示选择、日期时间、自动关机时间、背光亮度、背光时间、单位切换、资料输出、自动批号区分、测量方式、维修模式等功能 尺 寸 W75xD140xH31(mm) 重量 约340g 标准配件 标准片盒子、单3号碱性电池1.5Vx4颗、曲面固定器、携带皮套 专属配件 铁素材(FE370)、铝素材(NFE-370)、标准片6片组(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm、1,500μm) 选购配备 标准片(配件以外的厚度)、膜厚计测台LW-990、USB计算机传输线、专用打印机VZ-330、打印机专用传输线、RS-232C&USB转换线、资料管理软件LDL-02、资料管理软件McWAVE系列